新製品開発に欠かせない基本スキルを身につけるチャンス。
遠隔操作による分析デモも実施します！

物体の表面を拡大し、それの形状や質を確認することは、非常にシンプルな作業ですが、新製品の開発には無くてはならない評価の一つです。
走査電子顕微鏡（SEM）は、数千倍以上にものを拡大し、表面の形状や状態を確認できる装置です。
SEMには、様々な分析機能を装備することができ、今日では当たり前のように使用されています。
しかしながら、当たり前になり過ぎて、それらの基本的なことを学ぶ機会が減り、お困りの方も多いのではないでしょうか。

本セミナーは、そのような方々を対象に、SEMを利用した分析機器の基本をご説明いたします。
また、それらの装置をご使用の際、遠隔地からでも利用できるサービスを開始しましたので、それに関してもご紹介いたします。

対象者

• ・中小製造業　経営者
• ・開発・技術担当者

開催概要

日時	令和5年10月12日(木)14:30～16:00
開催形式	MOBIO産学連携オフィス セミナールーム（クリエイション・コア東大阪 南館2F）
定員	10名　※満席になり次第、締め切ります。
申込締切日	令和5年10月11日(水)
料金	無料
お問合せ先	公益財団法人大阪産業局　MOBIO（ものづくりビジネスセンター大阪） 〒577-0011 大阪府東大阪市荒本北1-4-17　クリエイション・コア東大阪北館1F 【TEL】06-6748-1054 【E-mail】mobio_gijyutsu@obda.or.jp 【受付時間】月～金 9:00～17:00（祝日・年末年始除く）

プログラム

• ＜SEMを利用した分析機器＞

  ・電子顕微鏡の基礎
  ・EDSおよびEPMAによる元素分析
  ・EBSDによる結晶方位解析

  
  ＜リモート装置使用のご紹介＞
  ・リモート装置使用の仕組み
  
  

  ＜EPMAのリモート使用デモ＞

講師プロフィール

平田 智丈（ひらた ともたけ）氏

大阪産業技術研究所 金属材料研究部 研究室長

主催

MOBIO（ものづくりビジネスセンター大阪）

共催

大阪産業技術研究所

※お申込みいただきました情報は、主催者であるMOBIOおよび共催者である大阪産業技術研究所で共有いたします。

注意事項

会場には、専用駐車場はございません。ご来場の際は、公共交通機関をご利用ください。
お車でお越しの場合は、近隣の有料駐車場をご利用ください。